一种PCB互联可靠性测试方法和装置
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摘要

一种PCB互联可靠性测试方法和装置,所述方法先在室温下测量孔链的电阻,然后将电流施加在孔链上,在升温阶段,使孔链的温度在设置的升温测试时间窗口内上升达到设定的测试温度下限,或者使孔链的温度在设定的升温时间内达到设定的测试温度窗口范围,在保温阶段,继续施加电流,在设置的保温时间内使孔链的温度保持在设定的测试温度下限与测试温度上限之间,然后停止施加电流,将孔链降温至室温,测量孔链的电阻。所述装置包括:电源模块、测试模块、控制模块和显示及输入模块。本发明的测试方法和装置的测试速度快,成本低,测试方便,抽样比例大,能检测出PCB电测试所不能检测出的轻微通孔、埋孔、盲孔的互联缺陷。

基本信息
专利标题 :
一种PCB互联可靠性测试方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111142009A
申请号 :
CN202010077214.4
公开(公告)日 :
2020-05-12
申请日 :
2020-01-24
授权号 :
CN111142009B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
许如意
申请人 :
上海炜绫测试技术有限公司
申请人地址 :
上海市松江区谷阳北路1470弄1号楼3楼322-2
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202010077214.4
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-06-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20200124
2020-05-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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