本发明公开了一种信号发生装置、芯片的可靠性测试系统，该信号发生装置包括控制器、第一电路选择器和第一连接器，控制器用于基于触发信号生成第一控制指令，根据第一控制指令控制第一电路选择器的工作状态以输出对应的控制信号至第一连接器，第一连接器用于输出控制信号，以对可靠性测试板上不同的负载进行切换控制。本发明提出一种芯片可靠性测试中外挂可控负载的可编程的信号发生装置S，克服了传统的芯片可靠性测试中固定负载单一及数据信号可选电压较少，不能满足需要切换不同工作负载或需要两种以上老化信号电压的HTOL以及Bhast测试的缺陷，大大地提高了芯片可靠性实验效率及测试覆盖率，保证了芯片可靠性测试的测试精度。