本实用新型属于电子技术领域，具体来说是一种自动化实时监测功能的芯片可靠性测试系统，系统包括芯片监测装置，包括一加热腔，加热腔一侧面设有穿板孔，加热腔内设有部分放置板，放置板包括电路板和控制板，控制板穿过穿板孔与外界连通，电路板设置于加热腔内；监测组件和控制板电连接，用于监测待测芯片还包括控制器，控制器包括数据处理模块和数据分析模块，数据处理模块用于收集和存储来自电路板的数据，数据分析模块用于分析计算数据处理模块的数据，并将其与数据处理模块的数据进行比较。本实用新型通过增加试验过程中的实时监测，如有异常可以从监测结果中马上反应出来，此时即可暂停试验，介入分析，而不需要等待试验结束后再分析。