具有分层微/纳米结构的表面增强拉曼底物及其检测方法
授权
摘要
本发明提供了一种具有分层微/纳米结构的表面增强拉曼底物及其检测方法，所述表面增强拉曼底物包括具有微坑阵列的半导体基板和沉积在所述半导体基板的微坑阵列上的厚度为40～300nm的银薄膜，其中，所述微坑阵列是通过纳秒到飞秒的激光脉冲照射半导体基板形成，微坑阵列中每个微坑的直径为10～20μm，且任意两个相邻微坑的外边缘之间的距离不超过所述直径的1/6，微坑阵列具有粒径为40～90nm的多个纳米凸起点。本发明具有良好的润湿性，接触角约为150°同时表面增强拉曼散射的增强因子可以达到1.3×107，足以检测分子水平；能够在生物药物、农药残留物和受环境污染的超低浓度溶液的检测中具有广阔的应用前景。
基本信息
专利标题 ：
具有分层微/纳米结构的表面增强拉曼底物及其检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111175285A
申请号 ：
CN202010194606.9
公开（公告）日 ：
2020-05-19
申请日 ：
2020-03-19
授权号 ：
CN111175285B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
李晓红程辉李国强肖林方佳浩唐晓轩马浩宇李青山谭诗莹
申请人 ：
西南科技大学
申请人地址 ：
四川省绵阳市涪城区青龙大道59号西南科技大学
代理机构 ：
成都中玺知识产权代理有限公司
代理人 ：
邢伟
优先权 ：
CN202010194606.9
主分类号 ：
G01N21/65
IPC分类号 ：
G01N21/65
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-06-12 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/65
申请日 : 20200319
申请日 : 20200319
2020-05-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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