集成门控被动淬灭和主动淬灭技术的近红外单光子探测器
授权
摘要
本发明公开一种集成门控被动淬灭和主动淬灭技术的近红外单光子探测器，包括门控被动淬灭和主动淬灭；FPGA分别接偏压调整电路、射频放大器、鉴别电平调整、比较器锁存使能端、D触发器；门控信号通过电容Cc接SPAD阳极，SPAD阳极通过电阻RL接偏压调整电路，SPAD阴极接变压器1端口，变压器6端口通过低通滤波器和低噪声放大器接比较器的反向输入端；鉴别电平调整电路接比较器的正向输入端；比较器的输出一路经过D触发器和伪高电子迁移率晶体管接变压器的2端口，另一路接双差分D触发器；双差分D触发器的输出一路产生雪崩输出，另一路接FPGA。其优点在于，高频门控被动淬灭电路中添加主动淬灭电路，防止了最初几十ns内释放后脉冲触发更高阶的后脉冲效应。
基本信息
专利标题 ：
集成门控被动淬灭和主动淬灭技术的近红外单光子探测器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112556841A
申请号 ：
CN202010283650.7
公开（公告）日 ：
2021-03-26
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN112556841B
授权日 ：
2022-04-22
发明人 ：
刘俊良许伊宁李永富刘兆军赵显
申请人 ：
山东大学
申请人地址 ：
山东省青岛市即墨区滨海路72号
代理机构 ：
青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
付秀颖
优先权 ：
CN202010283650.7
主分类号 ：
G01J1/44
IPC分类号 ：
G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
G01J1/44
电路
法律状态
2022-04-22 ：
授权
2021-04-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/44
申请日 : 20200413
申请日 : 20200413
2021-03-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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