一种光学自准直仪靶标的快速对准方法
授权
摘要
本发明涉一种光学自准直仪靶标的快速对准方法，改进了光学自准直仪寻找多面棱体反射靶标的方法，根据其使用的具体型号的光学自准直仪设计制造一个将激光瞄准器与自准直仪物镜外壳连接的定位套筒，借助定位套筒，配合一个普通双向可调的激光瞄准器，即可进行靶标对准，对准时间由80分钟到120分钟降低到10到15分钟，寻找靶标效率提高了5倍到12倍。
基本信息
专利标题 ：
一种光学自准直仪靶标的快速对准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111678672A
申请号 ：
CN202010428732.6
公开（公告）日 ：
2020-09-18
申请日 ：
2020-05-20
授权号 ：
CN111678672B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
田安红高翔刘前
申请人 ：
西安昆仑工业（集团）有限责任公司
申请人地址 ：
陕西省西安市幸福北路67号
代理机构 ：
西北工业大学专利中心
代理人 ：
华金
优先权 ：
CN202010428732.6
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2020-10-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200520
申请日 : 20200520
2020-09-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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