Mura检测方法、装置及可读存储介质
授权
摘要
本申请公开了一种mura检测方法、装置及可读存储介质，检测方法包括：获取原始图像信号；从原始图像信号中获取目标测试图像；获取目标测试图像中mura所在区域作为目标测试区域；对目标测试区域进行处理以得到目标测试区域的灰阶分布；根据灰阶分布得到目标测试区域的亮度梯度分布；根据目标测试区域的亮度梯度分布计算SEMU值；根据SEMU值获取mura区域对应位置。通过上述实施方式，本申请能够实现对晕影现象的进行客观测量及评价。
基本信息
专利标题 ：
Mura检测方法、装置及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111652865A
申请号 ：
CN202010475158.X
公开（公告）日 ：
2020-09-11
申请日 ：
2020-05-29
授权号 ：
CN111652865B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
王艳雪
申请人 ：
惠州市华星光电技术有限公司
申请人地址 ：
广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区惠风四路78号TCL液晶产业园D栋
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
杨艇要
优先权 ：
CN202010475158.X
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/90
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20200529
申请日 : 20200529
2020-09-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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