用于检测LED封装缺陷的在线测试设备
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摘要

本发明属于封装技术领域,尤其是用于检测LED封装缺陷的在线测试设备,针对现在的LED封装检测不能自动的对灯板进行通电的问题,现提出以下方案,包括主底座,所述主底座的顶部两侧均通过螺栓固定有竖直设置的固定侧板,两个所述固定侧板相靠近一侧的一端位置均开设有两个第一孔洞,且两个第一孔洞的圆周内壁套接有水平设置的电动推杆三。本发明中,通过设置导电杆一与导电杆二,且分别抽动导电杆一与导电杆二可以将其一端位置抽至灯板的通电触点位置,同一批灯板检测时调整一次即可,在通电时,底部位置的电磁铁通电将顶部位置的磁吸铁块向下吸引,使得导电杆一与导电杆二的接电触头连接至导电端,即可自动的对灯板进行导电。

基本信息
专利标题 :
用于检测LED封装缺陷的在线测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111638468A
申请号 :
CN202010507078.8
公开(公告)日 :
2020-09-08
申请日 :
2020-06-05
授权号 :
CN111638468B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
王敏刘志刚胡丰森江玮饶奋明
申请人 :
深圳市长方集团股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山新区大工业区聚龙山3号路
代理机构 :
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
曾令安
优先权 :
CN202010507078.8
主分类号 :
G01R31/44
IPC分类号 :
G01R31/44  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-10-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/44
申请日 : 20200605
2020-09-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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