一种基于神经网络架构搜索的表面缺陷分类方法
授权
摘要
本发明公开了一种基于神经网络架构搜索的表面缺陷分类方法，包括以下步骤S1：构建堆叠候选cell的网络架构NAS‑SDC，所述网络架构NAS‑SDC基于神经网络架构搜索构建；S2：通过NEU‑CLS缺陷数据集搜索cell，利用搜索到的最佳cell构建缺陷分类CNN；S3：利用S2得到的缺陷分类CNN对表面缺陷进行分类。本发明通过神经网络架构搜索，可自动从更加精简的搜索空间中高效的搜索出最佳的网络单元，基于该最佳网络单元的CNN具有参数量小、检测精度高等优点，成功的应用于表面缺陷分类。
基本信息
专利标题 ：
一种基于神经网络架构搜索的表面缺陷分类方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111833310A
申请号 ：
CN202010555030.4
公开（公告）日 ：
2020-10-27
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN111833310B
授权日 ：
2022-05-06
发明人 ：
杨铁军张天舒黄琳
申请人 ：
桂林理工大学
申请人地址 ：
广西壮族自治区桂林市七星区建干路12号
代理机构 ：
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 ：
刘俊
优先权 ：
CN202010555030.4
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-06 ：
授权
2020-11-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20200617
申请日 : 20200617
2020-10-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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