一种纳米电容三维集成结构及其制备方法
授权
摘要

本发明公开一种纳米电容三维集成结构及其制备方法。该纳米电容三维集成结构包括形成在硅衬底的沟槽内的垂直堆叠的第一纳米电容结构和第二纳米电容结构,两者相互并联连接。本发明将一次性刻蚀出高深宽比硅纳米结构变为两次刻蚀出高深宽比硅纳米结构,可以降低对刻蚀设备精度的要求,从而可以降低制造成本。由于单个硅纳米结构的深宽比降低,所以薄膜台阶覆盖率可以提高,薄膜的保形性也可以增强,从而可以减小薄膜在沉积过程中孔洞的出现。并且可以采用传统的溅射设备来沉积金属材料,从而可以获得电阻率较低的金属电极。此外,能够提高纳米电容整体的电容密度,减少电容所占据的平面面积,从而可以获得小尺寸的能量缓冲器件。

基本信息
专利标题 :
一种纳米电容三维集成结构及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112018070A
申请号 :
CN202010754763.0
公开(公告)日 :
2020-12-01
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN112018070B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
朱宝陈琳孙清清张卫
申请人 :
复旦大学;上海集成电路制造创新中心有限公司
申请人地址 :
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 :
北京得信知识产权代理有限公司
代理人 :
孟海娟
优先权 :
CN202010754763.0
主分类号 :
H01L23/522
IPC分类号 :
H01L23/522  H01L23/528  H01L21/768  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/52
用于在处于工作中的器件内部从一个组件向另一个组件通电的装置
H01L23/522
包含制作在半导体本体上的多层导电的和绝缘的结构的外引互连装置的
法律状态
2022-04-08 :
授权
2020-12-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 23/522
申请日 : 20200731
2020-12-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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