一种基于力感知测量的高效精密研抛轨迹优化方法
实质审查的生效
摘要

针对零件表面的研磨抛光过程,提出一种基于力感知测量的高效精密研抛轨迹优化方法,具体包括以下步骤:以待加工工件三维模型为依据,对零件进行理论加工轨迹规划;控制机器人按照规划轨迹进行运动,采用力感知测量的方式记录每个控制点对应的型差信息,轨迹点余量信息计算,得到表面实际加工点位置补偿信息;根据去除工具和去除材料等工艺参数进行零件表面研磨抛光工艺处理;控制过程中采用渐变量去除的方式,保证加工的效率和精度。与传统方法相比,利用本发明测量的加工轨迹具有打磨加工后型面一致和光顺等优点,且省去了更换测量工具和数据传输、分析等过程,十分简单快捷。实验结果和分析表明该方法能够提高零件的研磨抛光表面质量。

基本信息
专利标题 :
一种基于力感知测量的高效精密研抛轨迹优化方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114274047A
申请号 :
CN202011031293.1
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2020-09-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李论刘殿海赵吉宾周波王阳
申请人 :
中国科学院沈阳自动化研究所
申请人地址 :
辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号
代理机构 :
沈阳科苑专利商标代理有限公司
代理人 :
许宗富
优先权 :
CN202011031293.1
主分类号 :
B24B49/16
IPC分类号 :
B24B49/16  B24B47/20  B24B55/06  G05B19/19  
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B24
磨削;抛光
B24B
用于磨削或抛光的机床、装置或工艺(用电蚀入B23H;磨料或有关喷射入B24C;电解浸蚀或电解抛光入C25F3/00;磨具磨损表面的修理或调节;磨削,抛光剂或研磨剂的进给
B24B49/00
用于控制磨具或工件进给运动的测量或校准装置;指示或测量装置的布置,如用于指示磨削加工开始的
B24B49/16
考虑负荷
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B24B 49/16
申请日 : 20200927
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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