一种分析沉积在滤片上颗粒的方法及其样品制备分析设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种分析沉积在滤片上颗粒的方法及其样品制备分析设备,包括滤片、颗粒、背景、离子液体、自动分析滤片上沉积颗粒装置和光学显微镜,其特征在于:所述滤片主要包括滤膜,但也包括粘合剂载体层,例如沉降点使用,所述颗粒包括黑色的颗粒、白色的颗粒、透明的颗粒和灰色的颗粒,所述背景分为两组,分别为浅白色的第一背景和浅黑色的第二背景,所述浅黑色背景和所述浅白色背景均根据颜色深度分为两个等级。该分析沉积在滤片上颗粒的方法,透光性增加的滤片可用于光学分析,因为使用现有知识和廉价资源可以获得透明性增加的滤片,所以这种方法简易且廉价,离子液体的使用使得使用光学显微镜和SEM‑EDX系统检测同一滤片变得更加容易。

基本信息
专利标题 :
一种分析沉积在滤片上颗粒的方法及其样品制备分析设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324154A
申请号 :
CN202011063591.9
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马俊安
申请人 :
阅美测量系统(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区城北路1355号1幢10层1011、1013、1015、1019室
代理机构 :
上海浙晟知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨秀伟
优先权 :
CN202011063591.9
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/94  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/01
申请日 : 20200930
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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