相频响应测量方法和装置
实质审查的生效
摘要

本申请实施例提供一种相频响应测量方法和装置。该相频响应测量装置至少包括:第一处理单元,其用于将第一信号经过窄带光电检测器后分别与第一参考信号和第二参考信号进行混频去噪,以得到第一检测信号和第二检测信号,其中,测量信号经过光发射端滤波模块后获得该第一信号,该测量信号在多个支路中的一路上发射,该多个支路中的其他路不发射信号,该测量信号的帧结构包括至少一个双频信号,该双频信号中的两个频率有固定的频率间隔;第一计算单元,其用于根据该第一检测信号和该第二检测信号计算多个频点处的群时延;第一确定单元,其用于根据该多个频点处的群时延确定该光发射端滤波模块在该一路上的相频响应。

基本信息
专利标题 :
相频响应测量方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114448500A
申请号 :
CN202011209286.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-11-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
樊洋洋陶振宁
申请人 :
富士通株式会社
申请人地址 :
日本神奈川县川崎市
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
张祥意
优先权 :
CN202011209286.6
主分类号 :
H04B10/079
IPC分类号 :
H04B10/079  
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20201103
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332