一种雪崩光电探测器光响应度测量系统及测量方法
公开
摘要
本发明提供一种雪崩光电探测器光响应度测量系统，包括：光源模块、程控光衰减器、光分路器、光功率计、控制器以及数字源表；本发明还提供一种雪崩光电探测器光响应度测量方法，在测量各个扫描波长点光电流的过程中，依据计算得到的各个扫描波长点下的光功率测量值与测量光响应度的指定光功率之间的偏差值，采用程控光衰减器，在每个扫描波长点的衰减量上进行补偿，保证所有扫描波长点照射入雪崩光电探测器的光功率都是指定值，从而排除了测量系统中光无源组件如光衰、光纤等插入损耗波长相关性的影响，从而得到更准确雪崩光电探测器光响应度测量结果。
基本信息
专利标题 ：
一种雪崩光电探测器光响应度测量系统及测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114614891A
申请号 ：
CN202210284444.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
侯广辉王品一崔靖
申请人 ：
NANO科技（北京）有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区永丰路9号院2号楼4层101
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210284444.7
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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