凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法
授权
摘要
本发明公开了凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法，第一次修正：将凸轮轴坐标系o0x0y0z0转换到仪器坐标OXYZ内；第二次修正：将凸轮轴中心轴线平移到被测对象中心点处，以保证仪器测头能够对被测对象进行正常采样，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于平移后的凸轮轴中心轴线进一步修正采样位姿；第三次修正：计算被测对象相对于凸轮轴坐标系中的参考基准面的夹角偏差，根据所述夹角偏差将被测对象坐标系转换到仪器坐标系，使得仪器测头能够在仪器坐标系内相对于被测对象的轮廓修正采样位姿。修正采样位姿后获取采样数据并拟合出相应的轮廓形貌。本发明解决了在仪器坐标下下采样路径与被测对象真实轮廓曲线不匹配的问题。
基本信息
专利标题 ：
凸轮轴上被测对象的采样位姿修正与轮廓形貌测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112414352A
申请号 ：
CN202011247233.3
公开（公告）日 ：
2021-02-26
申请日 ：
2020-11-10
授权号 ：
CN112414352B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
周森倪颖倩陶磊陈龙周进郝森
申请人 ：
重庆市计量质量检测研究院
申请人地址 ：
重庆市渝北区杨柳北路1号
代理机构 ：
重庆博凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
周玉玲
优先权 ：
CN202011247233.3
主分类号 ：
G01B21/20
IPC分类号 ：
G01B21/20 G01B21/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/20
用于计量轮廓或曲率，例如测定外形
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2021-03-16 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/20
申请日 : 20201110
申请日 : 20201110
2021-02-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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