一种二氧化铀芯块平均晶粒尺寸非破坏性检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种二氧化铀芯块平均晶粒尺寸非破坏性检测方法,包括如下步骤:步骤1:超声清洗芯块并烘干;步骤2:放置芯块;步骤3:采集芯块端面宏观形貌图像;步骤4:切换到高倍,一次采集每个视场形貌图像;步骤5:依次测量并处理每幅图像;步骤6:排除异常数据;步骤7:计算区域平均晶粒尺寸和总平均晶粒尺寸。其有益效果在于:本发明可在压水堆核燃料元件二氧化铀芯块产品上直接进行晶粒尺寸的测量,不损坏污染试样,不产生二次污染,节约了核材料。检测周期由定量金相法的一个工作日缩短为约20分钟,测量区域和测量结果与定量金相法一致,可直接进行比较。

基本信息
专利标题 :
一种二氧化铀芯块平均晶粒尺寸非破坏性检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509464A
申请号 :
CN202011285964.7
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2020-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
袁野
申请人 :
中核建中核燃料元件有限公司
申请人地址 :
四川省宜宾市翠柏大道迎宾路(八一二厂)
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
孙成林
优先权 :
CN202011285964.7
主分类号 :
G01N23/2251
IPC分类号 :
G01N23/2251  G01N23/2202  G01N21/84  G01N1/34  G01N1/44  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/225
利用电子或离子微探针
G01N23/2251
使用入射电子束,例如扫描电子显微镜
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2251
申请日 : 20201117
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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