一种测试机构及其测试装置
公开
摘要
本发明公开了一种测试机构，包括主板、X轴模组、Y轴模组、Z轴模组和用于连接测试板的接触板，X轴模组和接触板均固定在主板上，X轴模组设置在所述接触板的两端，Y轴模组与X轴模组滑动连接，Z轴模组与所述Y轴模组滑动连接，Z轴模组设置在所述接触板的上方，Z轴模组包括导电针和用于推动导电针向下运动的推动器，接触板包括多个导电端，导电端与测试板上的待测芯片电性连接，当导电针向下运动时点击导电端。其还公开了一种包括测试机构的测试装置，还包括测试板和测试信号发生器，测试板与接触板电性连接，测试信号发生器与导电针电性连接。其成本低且检修方便。
基本信息
专利标题 ：
一种测试机构及其测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114594362A
申请号 ：
CN202011399430.7
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曹佶田俊
申请人 ：
浙江杭可仪器有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区经济技术开发区启迪路198号B1-3-067室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202011399430.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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