一种测量功率器件C-V曲线的测量电路
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摘要

本实用新型提供了一种测量功率器件C‑V曲线的测量电路,包括IGBT的三个端子,所述三个端子分别为集电极C、发射极E、门极G,所述集电极C和所述门极G之间的寄生电容为Cgc,所述发射极E和所述门极G之间的寄生电容为Cge,所述集电极C和所述发射极E之间的寄生电容为Cce;测量电路简洁易懂,有完善的保护电路,可以精确测量功率器件上的寄生电容关于直流偏置电压的C‑V曲线,且所用的仪器设备相比较更为便宜。并且适用于测量高压偏置下的电容值。本实用新型不需要昂贵的测量仪器,仅需要阻抗分析仪或者RLC电桥即可测量。无源电路设计简单,并且设计有完善的保护电路,将高压和交流信号分开,并能够保护仪器的功率器件,适用于高压测试场合。

基本信息
专利标题 :
一种测量功率器件C-V曲线的测量电路
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020122541.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-19
授权号 :
CN212060434U
授权日 :
2020-12-01
发明人 :
杨鑫丁毅飞王紫茹王俊
申请人 :
湖南大学
申请人地址 :
湖南省长沙市岳麓区麓山南路2号
代理机构 :
北京精金石知识产权代理有限公司
代理人 :
肖乐愈秋
优先权 :
CN202020122541.2
主分类号 :
G01R27/26
IPC分类号 :
G01R27/26  G01R27/02  G01R31/00  G01R15/14  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/26
电感或电容的测量;品质因数的测量,例如通过应用谐振法;损失因数的测量;介电常数的测量
法律状态
2020-12-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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