一种射频性能测试系统

授权

摘要

本实用新型提供了一种射频性能测试系统，包括暗室、设置在暗室内的转台、杂散探头组件、平面波生成器和设置在暗室外的测试仪表；转台包括用于固定被测件的固定件和至少两个调节轴，所述至少两个调节轴与固定件连接并带动被测件沿不同方向运动；杂散探头与所述被测件的相位中心对齐，所述杂散探头所工作的频段能够覆盖所述被测件的频段；平面波生成器与被测件的相位中心对齐；测试仪表分别与杂散探头和平面波生成器连接。本实用新型的射频性能测试系统，暗室内同时设有杂散探头和平面波生成器，满足一个测试场完成全频段测试的需求，既能实现对天线带内指标的测试，又能实现对天线带外杂散的测试，一场多用。

基本信息

专利标题：

一种射频性能测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020143001.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-22

授权号：

CN211046941U

授权日：

2020-07-17

发明人：

曹宝华

申请人：

南京捷希科技有限公司

申请人地址：

江苏省南京市秦淮区中华路278号

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司

代理人：

郝传鑫

优先权：

CN202020143001.2

主分类号：

H04B17/15

IPC分类号：

H04B17/15 H04B17/29 H04B17/00