一种双极化探测太赫兹安全检查设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种双极化探测太赫兹安全检查设备，包括准光系统、双极化探测阵列、信号处理模块、运转控制模块与上位机，所述双极化探测阵列、所述信号处理模块、所述上位机、所述运转控制模块、所述准光系统依次连接。本实用新型采用了双极化探测器替代传统的探测器，双极化探测器能够接收到两个不同的极化信号，使获取的待测目标信息更加完整；将某一只双极化探测器两个极化通道输出的信号相加，根据信号强度数值相加，噪声强度矢量相加的原则，双极化探测器较单极化探测器信噪比可得到很大提升，从而提高设备的分辨力，保证了太赫兹图像的质量和安检的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种双极化探测太赫兹安全检查设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020264249.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-06
授权号 ：
CN211718540U
授权日 ：
2020-10-20
发明人 ：
许颖超吴博文高炳西冯辉涂昊
申请人 ：
博微太赫兹信息科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区香樟大道199号
代理机构 ：
合肥昊晟德专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
顾炜烨
优先权 ：
CN202020264249.4
主分类号 ：
G01V8/10
IPC分类号 ：
G01V8/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V8/00
用光学装置勘探或探测
G01V8/10
探测，例如，用光垒
法律状态
2020-10-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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