一种工件检测系统
著录事项变更
摘要

本实用新型涉及一种工件检测系统,包括位移机构、检测机构、控制柜、机架,所述机架为上下两层,上层内设位移机构、检测机构,下层内设置控制柜,机架下层侧壁的板体可门窗式开合,机架上层其中一个宽侧壁开放设置,两个窄侧壁半开放设置,检测机构部分位于机架的开放空间内。本实用新型能够对多个工件进行检测,也可对单个工件独立检测,同时可进行工件抽检操作,具有多种检测模式,同时利用位移机构与检测机构适配的位置关系,避免检测机构对工件的空检或者误检,提高了检测效率,可满足高效自动化生产的需求。

基本信息
专利标题 :
一种工件检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020267950.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-06
授权号 :
CN211477005U
授权日 :
2020-09-11
发明人 :
黄钢段徽庆李林森王珂晟
申请人 :
北京安博科瑞教育科技有限公司
申请人地址 :
北京市石景山区实兴大街30号院10号楼5层514
代理机构 :
北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐华
优先权 :
CN202020267950.1
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  G01N21/84  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-05-17 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01B 11/00
变更事项 : 发明人
变更前 : 黄钢 段徽庆 李林森 王珂晟
变更后 : 王珂晟 李林森 黄钢 段徽庆
2020-09-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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