本实用新型涉及探针使用寿命检测领域，具体涉及一种晶振电性能测试用探针寿命检测装置，包括：一底座，一测试平台，装置于所述底座上；一支架，装置于所述底座上，所述支架上设有一轨道滑轮；一步进电机，与所述支架固定连接，并与一配电柜电性连接；一滑块，装置于所述轨道滑轮上；一网络分析测试模块，设置于所述滑块上，通过一网络分析高频线连接到一终端设备；一探针定位座，连接所述网络分析测试模块；所述配电柜通过一通讯线连接所述终端设备上。本实用新型能够自动完成探针寿命的检测，减少人力资源，同时多探针寿命检测更为准确，减少不良品混入，增加生产质量指数，减少损失。