一种检测性能好的测试探针
授权
摘要

本实用新型公开了一种检测性能好的测试探针,包括支架、调节主体和探头,所述调节主体滑动安装在支架的内壁,所述探头均匀固定连接在调节主体的下端,所述支架包括滑框和螺丝,所述螺丝螺纹安装在滑框的侧部,所述调节主体包括伸缩架、第一导体、第三导体和第一弹簧,所述第三导体均匀滑动安装在滑框的上部内壁,所述第三导体的下端均转动连接在伸缩架的上端,所述第一导体固定连接在第三导体的下端,所述第一弹簧的两端固定连接在第三导体的内壁,所述探头包括导体壳、导体柱和第二弹簧。本实用新型能够提高检测装置与检测目标的匹配度,同时能够在与目标接触时减小氧化膜对检测的有害影响,更好的满足使用需要。

基本信息
专利标题 :
一种检测性能好的测试探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921048839.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-08
授权号 :
CN210243705U
授权日 :
2020-04-03
发明人 :
刘平
申请人 :
深圳市兴晨旭五金制品有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道东方社区东方一路39号东盛科技园B区C栋二楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201921048839.7
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2020-04-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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