一种用于透射样品薄膜制备的装置
授权
摘要

本实用新型涉及一种用于透射样品薄膜制备的装置,包括开设有通孔的研磨座,以及穿设在所述通孔上的丝杆和样品台,所述丝杆与研磨座通过螺纹连接,研磨座上转动连接有与丝杆同轴的刻度盘,刻度盘上设有与丝杆上的螺纹导程相对应的刻度。本实用新型通过刻度盘可以及时了解样品研磨厚度,针对不同的材料可以选的不同的减薄速度,最小可以将样品磨至10微米内;采用不锈钢丝杆和铜衬套配合,提高了操作的流畅性;通过丝杆螺旋推进样品控制样品长度,实用性强,可加工多种材料的样品;本装置内加工环境比较温和,对样品材料的组织和破坏较小,得到的样品质量高;本装置可靠性高,在使用过程中不易损坏且有良好的维修和保养性能。

基本信息
专利标题 :
一种用于透射样品薄膜制备的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020318655.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-16
授权号 :
CN211668906U
授权日 :
2020-10-13
发明人 :
王杰文
申请人 :
山东农业大学
申请人地址 :
山东省泰安市岱宗大街61号
代理机构 :
济南誉丰专利代理事务所(普通合伙企业)
代理人 :
王舵
优先权 :
CN202020318655.4
主分类号 :
G01N1/32
IPC分类号 :
G01N1/32  G01N1/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/32
抛光;腐蚀
法律状态
2020-10-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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