一种晶体管检测装置
授权
摘要
本实用新型具体公开了一种晶体管检测装置，包括检测组件，所述检测组件固定在机架的上端，还包括：输入组件，所述输入组件固定机架的上端且其输出口靠近检测组件，用于输入晶体管；输送通道，所述输送通道位于机架的内部且其进口处靠近输入组件的出口处；定位组件，所述定位组件固定在输送通道的进口处；输出组件，所述输出组件固定在输送通道的出口处且位于输入组件的斜下方，用于输出晶体管。本实用新型的晶体管检测装置的结构设计合理，能够持续快速地对晶体管进行输送检测，检测稳定性和精准度高，并且可以更好地与别的生产加工设备配合，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体管检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020457362.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-01
授权号 ：
CN212459938U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
李冬梅许韶健张双全周旭谢远清
申请人 ：
广州华微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市广州保税区保盈大道15号
代理机构 ：
广州一锐专利代理有限公司
代理人 ：
甘奎强
优先权 ：
CN202020457362.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/02 B65G15/00 B65G23/08 B65G47/24 B65G47/82
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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