一种集成电路用检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种集成电路用检测装置,涉及集成电路技术领域。该集成电路用检测装置,包括底座,所述底座的底部焊接安装有支撑腿,底座的顶部焊接安装有支架,支架的一侧外壁铰接安装有顶板,顶板位于底座的上方,顶板的底部固定安装有照明灯,照明灯的数量为八组,照明灯上套设有灯罩,灯罩的数量和照明灯一一对应,底座的一侧外壁焊接安装有连接座,支架的一侧外壁铰接安装有放置座,放置座的内部设置有夹紧机构,支撑腿的上方设置有驱动机构,连接座的内壁设置有辅助机构。本实用新型结构简单,便于操作,有利于增加集成电路元件检测的准确度,一定程度上提高了集成电路元件的合格率,有利于使用。

基本信息
专利标题 :
一种集成电路用检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020474730.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-02
授权号 :
CN212379514U
授权日 :
2021-01-19
发明人 :
熊明存
申请人 :
黄淑芬;满园红
申请人地址 :
北京市朝阳区酒仙桥路甲十号院星城国际大厦A座18C
代理机构 :
北京酷爱智慧知识产权代理有限公司
代理人 :
袁克来
优先权 :
CN202020474730.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-01-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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