集成电路引线框架缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型提供一种集成电路引线框架缺陷检测装置，其包括：两个视觉检测工位，其中任一视觉检测工位包括：上料机构、推料机构、下料机构、检测机构。本实用新型的集成电路引线框架缺陷检测装置能够实现线框的自动上料、检测、下料以及分拣，其有利于线框的快速、精确检测，充分满足了现代化工业生产的实际需求，有利于保障后续与集成电路芯片的良好配合。
基本信息
专利标题 ：
集成电路引线框架缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920654017.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-05
授权号 ：
CN210221842U
授权日 ：
2020-03-31
发明人 ：
王敕李锡凡陆城燕
申请人 ：
苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟经济技术开发区四海路11号科创园5-102
代理机构 ：
苏州国诚专利代理有限公司
代理人 ：
杨淑霞
优先权 ：
CN201920654017.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-03-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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