引线框架缺陷检测装置

授权

摘要

本实用新型提供一种引线框架缺陷检测装置，其特征在于，所述引线框架缺陷检测装置包括：第一上下料机构、视觉检测机构、第二上下料机构；所述第一上下料机构位于所述视觉检测机构的一端，所述第二上下料机构位于所述视觉检测机构的另一端，所述第一上下料机构、第二上下料机构交替地将待检测的集成电路引线框架送到视觉检测机构处进行视觉检测。本实用新型的引线框架缺陷检测装置具有两个上下料工位，两个上下料工位分布于一个视觉检测机构的两侧，如此两个上下料工位共用一个视觉检测机构，精简了装置的结构，同时对于任一个上下料工位而言，可连续工作减少了等待的时间，提高了检测的效率。

基本信息

专利标题：

引线框架缺陷检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921807007.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-10-25

授权号：

CN211515248U

授权日：

2020-09-18

发明人：

不公告发明人

申请人：

苏州艾科瑞思智能装备股份有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市常熟经济技术开发区四海路11号科创园5-102

代理机构：

苏州国诚专利代理有限公司

代理人：

杨淑霞

优先权：

CN201921807007.9

主分类号：

B07C5/342

IPC分类号：

B07C5/342