一种集成电路检测装置
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种集成电路检测装置,涉及检测装置技术领域。该集成电路检测装置,包括底座、底部检测装置、顶部检测装置和支撑架,所述底座的顶部固定连接有底部检测装置,所述支撑架的底部固定连接在底座的顶部,所述顶部检测装置的底部固定连接在支撑架的顶部。该集成电路检测装置,通过第一检测底座与第二检测底座底部的第一活动块以及第二活动块来进行一定规律的震动来模拟现实工作中集成电路的使用情况,通过第一检测头和第一检测底座中的第一检测针和第二检测针来对集成电路上的每个接口进行检测,使我们可以清楚的知道集成电路每个接口在工作中的实际情况,通时通过温度检测器来对集成电路进行实时的温度检测,使检测结果效果更好。
基本信息
专利标题 :
一种集成电路检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922429802.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-29
授权号 :
CN210981367U
授权日 :
2020-07-10
发明人 :
郑剑华张元元孙彬
申请人 :
南通华隆微电子股份有限公司
申请人地址 :
江苏省南通市通州区兴东镇孙李桥村西八组
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201922429802.5
主分类号 :
G01D21/02
IPC分类号 :
G01D21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D21/00
未列入其他类目的测量或测试
G01D21/02
用不包括在其他单个小类中的装置来测量两个或更多个变量
法律状态
2021-12-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01D 21/02
申请日 : 20191229
授权公告日 : 20200710
终止日期 : 20201229
申请日 : 20191229
授权公告日 : 20200710
终止日期 : 20201229
2020-07-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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