本实用新型公开了一种Mini/MicroLED短路测试治具，包括测试机主体，所述测试机主体上设有产品放置区、探针测试机构、PCB板和控制组件盖壳，所述产品放置区、探针测试机构和PCB板均设置在测试机主体上端面，所述探针测试机构位于产品放置区后方，所述PCB板位于探针测试机构后方，所述控制组件盖壳位于探针测试机构以及PCB板的上方，且所述控制组件盖壳与测试机主体后侧通过合页做可转动连接，所述探针测试机构和所述控制组件盖壳均与PCB板电性连接；本实用新型可针对每个Mini/MicroLED进行精密的单独电阻测试，检测效率高、设备体积小，提高了产品检测质量，可连接信号源机箱，对产品进行快速老化测试。