一种芯片测试震动控制装置

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摘要

本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了一种芯片测试震动控制装置，包括控制箱，所述控制箱顶部的后端固定安装有测试屏，所述控制箱的顶部固定安装有测试台，测试台内腔的左右两侧壁均固定安装有稳固柱，稳固柱的内部活动连接有两端均贯穿至测试台外部的蜗杆，蜗杆的左右两侧均固定安装有转头，所述测试台的左右两侧均滑动连接有一端与转头外表面活动连接的限位杆，所述测试台内腔顶部和底部的左右两侧均固定安装有轴承，上下两个所述轴承相对一侧之间固定连接有连接杆。该芯片测试震动控制装置，整体结构简单，实现了震动控制装置夹持效果好的目的，有效避免芯片在震动测试过程中脱离固定，提高了测试的质量和效率，便于使用。

基本信息

专利标题：

一种芯片测试震动控制装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020587544.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-04-20

授权号：

CN211651999U

授权日：

2020-10-09

发明人：

李宗兵张磊

申请人：

南京微客力科技有限公司

申请人地址：

江苏省南京市浦口区浦滨路150号中科创新广场3号楼201-2

代理机构：

南京鸿越知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

刘娟娟

优先权：

CN202020587544.3

主分类号：

G01M7/02

IPC分类号：

G01M7/02