一种芯片制造用震动测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片制造技术领域，尤其是一种芯片制造用震动测试装置，包括工作台，所述工作台中部两侧通过缓冲件连接有连接块，所述连接块远离所述缓冲件的表面均固定安装有连接销轴，所述连接销轴远离所述连接块的表面均固定安装有固定板，所述固定板内部均固定安装有震动电机，两个所述固定板上端相互靠近的表面均固定安装有支撑板，所述支撑板上下两侧均螺纹安装有夹持螺栓，一个所述固定板下端固定安装有弹簧，所述弹簧端部固定连接有挂钩，另一个所述固定板下端固定安装有固定环，所述固定环与所述挂钩相互配合，该装置使用便捷，值得推广。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片制造用震动测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020667647.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-27
授权号 ：
CN211855768U
授权日 ：
2020-11-03
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
成都富源华能科技有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区少陵路18号
代理机构 ：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
何艳娥
优先权 ：
CN202020667647.0
主分类号 ：
G01M7/02
IPC分类号 ：
G01M7/02 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M7/02
•振动测试
法律状态
2020-11-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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