本发明涉及芯片测试技术领域，具体为一种用于电源管理芯片制造用测试装置及测试方法，包括支撑架，所述支撑架的下方安装有用于电源管理芯片测试的工作组件，所述支撑架上安装有对电源管理芯片可调整抗压测试位置的抗压测试组件，所述工作组件上设置有对电源管理芯片横向震动测试的第一震动测试组件，所述工作组件上设置有竖向震动测试的第二震动测试组件，本发明的目的在于提供一种用于电源管理芯片制造用测试装置及测试方法，可以灵活调整对电源管理芯片抗压测试的位置，大大提高测试的灵活性，另外在对电源管理芯片抗压测试时，可以对电源管理芯片的不同方向进行震动测试，不但节省人力物力，同时大大提高了工作效率。