手机后盖真空镀膜纳米膜层绝缘性能检测装置
授权
摘要
本实用新型公开手机后盖真空镀膜纳米膜层绝缘性能检测装置；包括主控制器、用以输送真空镀膜手机后盖来料的来料输送装置、用以感应真空镀膜手机后盖来料并对真空镀膜手机后盖来料进行定位的来料感应及定位装置、用以测量定位好的真空镀膜手机后盖来料纳米膜层电阻值的电阻自动测量装置、用以对绝缘性能检测合格的真空镀膜手机后盖来料边缘打产品标识码的激光打码装置及用以对绝缘性能检测合格并打有产品标识码的真空镀膜手机后盖来料及绝缘性能检测不合格的真空镀膜手机后盖来料背面进行覆膜的来料背面覆膜装置；效果：本实用新型可自动测量真空镀膜手机后盖来料电阻值以评估其绝缘性能，使得节省人力，降低劳动成本。
基本信息
专利标题 ：
手机后盖真空镀膜纳米膜层绝缘性能检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020599665.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-21
授权号 ：
CN212569012U
授权日 ：
2021-02-19
发明人 ：
王建峰
申请人 ：
深圳市嘉德真空光电有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区观澜街道君子布社区田心工业园9号厂房101
代理机构 ：
广州市南锋专利事务所有限公司
代理人 ：
郑学伟
优先权 ：
CN202020599665.X
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 B65G15/20 B23K26/362 B23K26/70
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2021-02-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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