一种减少误测的晶体测试治具
授权
摘要

本实用新型涉及一种减少误测的晶体测试治具,包括测试底盒,其上表面设有下凹的槽体,槽体内安装有测试主板,其上表面前侧设有导电垫片,导电垫片上设有与测试主板固定连接的测试台,测试台中部设有容纳产品的载料通孔,导电垫片的上表面从所述载料通孔的底部漏出;还包括位于导电垫片上方的测试压头,其活动连接在安装件上,由手柄驱动将待测产品压紧在导电垫片上。本实用新型保证产品在测试时处于始终水平状态,使产品pin脚与测试垫片由点接触变为线接触,增加了接触面积,减少测试误差,降低长期使用过程中对测试台造成的磨损。测试底盒、测试主板、测试台及导电垫片一体式设计,为多尺寸产品测试使用,无需更换测试平台,节约测试时间。

基本信息
专利标题 :
一种减少误测的晶体测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020913187.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-26
授权号 :
CN212540458U
授权日 :
2021-02-12
发明人 :
夏云杨聪滨
申请人 :
无锡嘉硕科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市锡山经济技术开发区联福路1231号
代理机构 :
无锡华源专利商标事务所(普通合伙)
代理人 :
聂启新
优先权 :
CN202020913187.5
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-02-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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