一种用于哈特曼探测器的光束对准光路
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于哈特曼探测器的光束对准光路，其包括底座以及光束校准装置，所述底座上壁面左侧安装有放置台，所述放置台上装配有固定结构，所述底座上壁面右侧开设有滑槽，所述滑槽内装配有移动结构，所述移动结构上端装配有升降结构；该用于哈特曼探测器的光束对准光路结构合理，设计新颖，可以针对不同型号的探测器进行校准，调节方便，便于使用，适用性强。
基本信息
专利标题 ：
一种用于哈特曼探测器的光束对准光路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021047277.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-09
授权号 ：
CN212180110U
授权日 ：
2020-12-18
发明人 ：
曹召良杜维江曹代茧冯石榴霍庆福
申请人 ：
苏州菲斯光电仪器有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴江区太湖新城中山南路568号互联网产业园31幢301室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021047277.7
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00 G01M11/00 G01T7/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
2020-12-18 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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