一种用于超低温真空环境的光束对准装置与对准方法
授权
摘要
本发明提供了一种用于超低温真空环境的光束对准装置与对准方法，其中装置包括：超低温真空仓体，对准目标，真空接口，真空程控位移台，导引激光模块，对准装置真空仓体，第一光阑，第二光阑，装调激光模块，工作光源。本发明的优点在于：1、无复杂光路和电路，结构简单、使用方便；2、适用波长范围宽，无波长限制；3、光束对准精度高；4、对准过程不改变入射光功率，不会引入杂散光，不影响后续光功率测量等测试精度。
基本信息
专利标题 ：
一种用于超低温真空环境的光束对准装置与对准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113295270A
申请号 ：
CN202110611324.9
公开（公告）日 ：
2021-08-24
申请日 ：
2021-06-01
授权号 ：
CN113295270B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
庄新港史学舜刘红博张鹏举刘长明赵发财沈荣仁
申请人 ：
中国电子科技集团公司第四十一研究所
申请人地址 ：
山东省青岛市黄岛区香江路98号
代理机构 ：
北京天奇智新知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈岚崴
优先权 ：
CN202110611324.9
主分类号 ：
G01J1/02
IPC分类号 ：
G01J1/02 G01J1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/02
零部件
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-09-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 1/02
申请日 : 20210601
申请日 : 20210601
2021-08-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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