一种多规格的少子测试装置
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摘要

一种多规格的少子测试装置,涉及多晶硅少子测试装置技术领域,包括横梁导轨、纵向导轨、工作台,所述横梁导轨设置于纵向导轨上,横梁导轨上设置有可沿横梁导轨滑动的扫描探头;设置有若干厚度不同的垫片,用于置于工作台上,所述垫片长与宽与工作台一致。本实用新型的有益效果是:在不改变测试装置的前提下,通过降低工作台高度,通过使用便携式垫片来调整工作台的高度,从而达到用一台设备测试多种规格尺寸多晶硅少子寿命的目的。

基本信息
专利标题 :
一种多规格的少子测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021423948.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-20
授权号 :
CN212676219U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
薛贺强刘郭军郭宽新刘陈陈刘齐元张守正
申请人 :
河南盛达光伏科技有限公司
申请人地址 :
河南省安阳市滑县文明路与黄河路交叉口西米200米
代理机构 :
安阳市智浩专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨红军
优先权 :
CN202021423948.5
主分类号 :
H01L21/66
IPC分类号 :
H01L21/66  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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