一种兼容多种规格光模块老化测试的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板，还包括若干类型子测试板，所述测试板设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的子板数据接口与测试板的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块连接。其有益效果是：采用一个装置，实现对多种规格的光模块测试，降低生产研发成本，提高生产效率。
基本信息
专利标题 ：
一种兼容多种规格光模块老化测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022273187.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-13
授权号 ：
CN213544704U
授权日 ：
2021-06-25
发明人 ：
张润泽黄庆陈硕王光辉张绍友
申请人 ：
成都市德科立菁锐光电子技术有限公司;无锡市德科立光电子技术股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）天虹路5号3栋4层1号
代理机构 ：
北京市领专知识产权代理有限公司
代理人 ：
张玲
优先权 ：
CN202022273187.6
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-06-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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