一种光模块的老化测试装置
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摘要

本实用新型公开了一种光模块的老化测试装置,包括机体、老化板和操作面板,所述机体底部设置有万向轮,所述机体一侧通过合页连接有机门,所述机门上设置有玻璃窗,所述机门一侧设置有电柜,所述电柜上设置有显示屏,所述显示屏下方设置有所述操作面板,所述操作面板下方设置有测试孔。有益效果在于:本实用新型通过设置老化板、老化板提手、底板,可以方便员工取拿,不会误碰到老化板上的电子元件,同时在测试时给老化板提供支撑,保证老化板使用寿命,通过设置风扇、散热孔、滑板,可以在光模块测试结束后对装置进行降温,提高光模块的测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种光模块的老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921186721.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-26
授权号 :
CN210572541U
授权日 :
2020-05-19
发明人 :
马学友杨勰娟
申请人 :
马学友
申请人地址 :
河南省周口市商水县城关镇大马庄村八组48号
代理机构 :
北京艾皮专利代理有限公司
代理人 :
冯铁惠
优先权 :
CN201921186721.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2020-05-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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