一种有源光模块的老化测试装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种有源光模块的老化测试装置,包括老化箱本体和老化板,老化箱本体一侧开设有多个散热孔,老化箱本体底部设置有多个万向轮,老化箱本体一侧设置有把手、凹槽和固定块,固定块一侧设置有旋钮帽、旋转杆和放置板,旋转杆一侧设置有转动齿轮、固定杆、支撑杆和夹持块,把手一侧固定连接有老化板,老化板两侧均开设有滑槽,老化板上表面开设有多个放置孔和开口。该种老化测试装置能够自动移动的同时,优化当老化箱空间过大时老化板放置困难的问题,同时又能够使得老化板可以根据不同类型的光模块需要改变其放置空间的位置,以适应不同类型的光模块,将放置空间利用最大化,加速光模块老化工作进程。
基本信息
专利标题 :
一种有源光模块的老化测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022106914.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-23
授权号 :
CN213423427U
授权日 :
2021-06-11
发明人 :
温首新
申请人 :
深圳市比特网讯科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区石岩街道应人石社区天宝路19号润兴发工业园6楼
代理机构 :
深圳市创富知识产权代理有限公司
代理人 :
余海燕
优先权 :
CN202022106914.X
主分类号 :
G01R31/44
IPC分类号 :
G01R31/44 G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2021-06-11 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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