光模块老化装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种光模块老化装置,包括至少一个加热仓,所述加热仓上开有至少一个进风口和至少一个泄压口,所述加热仓内安装有若干个用于放置光模块的载板,若干个所述载板在加热仓内沿竖直方向间隔设置,位于最上层的载板与加热仓之间围成一第一腔体区,所述加热仓内并位于若干个载板的一侧安装有一离心风机,若干个所述载板的另一侧与加热仓之间围成一与第一腔体区贯通的第二腔体区;每个所述风淋板上的出气孔的直径相同,相邻的风淋板之间,位于上方的风淋板上的出气孔的直径大于位于下方的风淋板上的出气孔的直径。本发明可以在多热源、大容量的加热仓内,始终保持每个光模块温度的均匀性,实现单仓光模块容量为1248只时,仓内温度均匀性实测满足±3℃,从而保证对光模块老化测试数据的精度和一致性。

基本信息
专利标题 :
光模块老化装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114325145A
申请号 :
CN202011379707.X
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-12-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘伟胡海洋纪铭黄建军
申请人 :
苏州联讯仪器有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢
代理机构 :
苏州创元专利商标事务所有限公司
代理人 :
王健
优先权 :
CN202011379707.X
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20201201
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332