一种制卡模块老化测试用测试工装
授权
摘要
本实用新型涉及一种制卡模块老化测试用测试工装，包括主体框架和制卡模块；所述主体框架内部一侧设有卡片回收箱；在所述卡片回收箱一侧设有上位机；所述上位机上方的主体框架上设有传送带；所述传送带通过驱动电机带动移动；所述传送带上设有夹持装置；所述制卡模块与主体框架配合端设有出卡口；所述出卡口的位置设置于夹持装置的中间位置；所述出卡口与夹持装置之间的主体框架上还设有光电传感器；所述上位机通过连接线与驱动电机、夹持装置及制卡模块连接并对其进行控制；本实用新型方案实现了自动取卡，解决了现有老化测试时，人工取卡测试的问题，在保证测试质量的同时，降低人力成本投入，并提升选型测试效率，降低研发成本。
基本信息
专利标题 ：
一种制卡模块老化测试用测试工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022394977.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
CN213750125U
授权日 ：
2021-07-20
发明人 ：
王红娟申伟坡胡焱安静
申请人 ：
浪潮金融信息技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中开发区吴淞江工业园吴淞路818号
代理机构 ：
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王新爱
优先权 ：
CN202022394977.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-07-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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