一种新型一体式测试探针针座
授权
摘要

本实用新型公开了一种新型一体式测试探针针座,包括载板、浮动板、等高螺丝和针板,所述载板上端中部设置有所述浮动板,所述浮动板上端中部设置有一体式测试探针,所述一体式测试探针外围设置有所述针板,所述浮动板上端四角处设置有所述等高螺丝。有益效果在于:本实用新型通过浮动板、等高螺丝、弹簧、针板以及一体式测试探针的设计,不仅使得该针座能够满足小间距大电流的一体式探测探针的安装需求,而且能够在测试过程中通过等高螺丝来实现针座与外部被测连接器的精准定位,同时也能够在测试完成后对一体式测试探针进行保护,不会对外部被测连接器产生任何扎痕,极大的保证了测试结果的可靠性和测试效果的稳定性。

基本信息
专利标题 :
一种新型一体式测试探针针座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021534803.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-29
授权号 :
CN213023253U
授权日 :
2021-04-20
发明人 :
杨亚坤黄勇
申请人 :
上海承盛电子科技有限公司
申请人地址 :
上海市松江区新桥镇莘砖公路668号252室
代理机构 :
深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘英
优先权 :
CN202021534803.2
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R31/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2021-04-20 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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