一种半导体芯片贴装设备的光线检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种半导体芯片贴装设备的光线检测装置,包括壳体和T形套,所述壳体的下方设置有脚垫,且壳体的外部从上往下一侧设置有第二杆体、第一杆体和板体,所述板体的外部安装有夹具组件,且夹具组件包括轨杆、底座、固定块、螺母、螺纹杆和压块,所述轨杆的外部设置有底座,且底座的两侧固定有固定块,所述固定块的外部固定有螺母,所述螺纹杆的外部设置有压块,所述壳体的一侧设置有固定座。该半导体芯片贴装设备的光线检测装置,与现有的普通光线检测装置相比,可以便于根据产品调节夹具组件夹持尺寸,检测产品的范围可从细间距高密度板到低密度大尺寸板,并可提供在线检测方案,以提高生产效率,及生产质量。

基本信息
专利标题 :
一种半导体芯片贴装设备的光线检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021572648.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-31
授权号 :
CN212693626U
授权日 :
2021-03-12
发明人 :
杨斌陈志龙方鹏飞
申请人 :
卓能电子(太仓)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市太仓市娄东街道宁波东路29号
代理机构 :
苏州言思嘉信专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
徐永雷
优先权 :
CN202021572648.3
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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