一种用于高重频自由电子激光的X射线光栅单色器
授权
摘要
本实用新型提供了一种用于高重频自由电子激光的X射线光栅单色器，包括沿入射光的光路的走向依次排布且位于同一水平面上的光栅、第一、第二和第三反射镜，光栅和第三反射镜位于入射光所在的第一光轴上，且第一反射镜与第二反射镜的连线与所述入射光的入射方向平行；入射光为高重频自由电子激光，光栅沿竖直方向可切换位置，从而有效减少高重频自由电子激光对光栅的破坏。本实用新型的X射线光栅单色器的光学元件均位于同一水平面上，并采用沿竖直方向可切换位置的光栅，使得自由电子激光打在光栅的不同位置，减小光学元件的热沉积，从而降低光栅单色器的光栅在局部位置的破坏，使得光栅单色器可以运行在更高重复频率的自由电子激光装置下。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高重频自由电子激光的X射线光栅单色器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021698039.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-14
授权号 ：
CN212432962U
授权日 ：
2021-01-29
发明人 ：
张开庆冯超刘涛刘波赵振堂
申请人 ：
中国科学院上海高等研究院
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
邓琪
优先权 ：
CN202021698039.2
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/25 G01N21/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2021-01-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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