一种压力测试探针老化设备
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摘要

一种压力测试探针老化设备,包括测试台,以及电控箱。所述测试台包括工作台,固定支架,探针固定组件,以及测试机构。所述测试机构包括伺服升降装置,压测头组件,以及测高仪。所述伺服升降装置包括伺服驱动装置,滑动板,以及安装支架。所述压测头组件固定连接在所述安装支架上。所述压测头组件包括压测头主体,高度检测板,以及压力传感器。所述测高仪沿所述伺服升降装置的移动方向延伸,所述测高仪穿过所述高度检测板。所述压测头主体的中心轴穿过所述探针固定组件,以便于以对所述探针固定组件上的所述探针材料进行检测。该压力测试探针老化设备压力值可控,测试效果准确,提升了检测精度。

基本信息
专利标题 :
一种压力测试探针老化设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021762303.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-21
授权号 :
CN212808591U
授权日 :
2021-03-26
发明人 :
李涛王华伟
申请人 :
浙江邦睿达科技有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市嘉善县姚庄镇宝群西路11号1层
代理机构 :
北京中政联科专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
燕宏伟
优先权 :
CN202021762303.4
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00  G01N19/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2021-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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