本申请实施例涉及一种缺陷修复电路和存储器，缺陷修复电路包括：测试模块，用于在测试模式下对存储单元阵列进行缺陷测试，以确定缺陷存储单元，并输出与存储单元相对应的测试地址信息和缺陷标识信号；缺陷信息存储模块，与测试模块连接，用于响应于缺陷标识信号，存储缺陷地址信息，缺陷地址信息为缺陷存储单元的测试地址信息，还用于响应于外部输入的修复选择信号输出第一地址信息，第一地址信息为多个缺陷地址信息中的一个；修复模块，与缺陷信息存储模块连接，用于根据接收到的第一地址信息，以对相应的缺陷存储单元进行修复。在本实施例中，缺陷修复电路新可以兼容于较小面积的芯片中，而且具有较高的便利性和可靠性。