本发明公开了一种存储器的自修复电路、芯片。其中，电路包括：通过测试总线与N个存储器连接以检测得到故障存储器的故障信息的内建自测试状态机，N为大于1的整数；内建自修复模块具有与存储器一一对应的第一、二修复信号输出端，以根据故障信息生成第一修复信号，以及在故障存储器的缺陷个数小于等于1时生成对应的第二修复信号，并通过对应的第一、二修复信号输出端输出第一、二修复信号；锁存器模块具有与上述第一、二修复信号输出端分别对应连接的N个第一、二修复信号输入端及与存储器一一对应连接的目标修复信号输出端，用于在测试功能模式下，在接收到第二修复信号时对相应的第一修复信号进行锁存，并生成相应的目标修复信号以进行修复。