用于列修复的存储器件
公开
摘要
一种存储器件包括：包括正常存储单元和冗余存储单元的存储单元阵列；第一页面缓冲器，其通过包括第一位线组和第二位线组的第一位线连接到所述正常存储单元，被布置在与沿第一方向延伸的所述第一位线相对应的第一区域中并且在所述第一方向上共线；以及第二页面缓冲器，其通过包括第三位线组和第四位线组的第二位线连接到所述冗余存储单元，被布置在与沿所述第一方向延伸的所述第二位线相对应的第二区域中并且在所述第一方向上共线，其中，当连接到所述第一位线组的至少一个正常存储单元被确定为缺陷单元时，将连接到所述第一位线组的正常存储单元替换为连接到所述第三位线组的冗余存储单元。
基本信息
专利标题 ：
用于列修复的存储器件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114333970A
申请号 ：
CN202110796935.5
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-07-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
朴珠用金敏洙边大锡郭判硕
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京市立方律师事务所
代理人 ：
李娜
优先权 ：
CN202110796935.5
主分类号 ：
G11C29/44
IPC分类号 ：
G11C29/44 G11C29/12 G11C7/18 G11C7/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试，例如，在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置
G11C29/44
错误指示或识别，例如，修复
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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